高速采集卡用于正电子湮灭谱仪

正电子湮没谱学是一种研究物质微观结构的方法。正电子是电子的反粒子,两者除电荷符号相反外,其他性质（静止质量、电荷的电量、自旋）都相同。正电子进入物质在短时间内迅速慢化到热能区,同周围媒质中的电子相遇而湮没,全部质量(对应的能量为2meс2)转变成电磁辐射──湮没γ光子（见电子对湮没）。50年代以来对低能正电子同物质相互作用的研究，表明正电子湮没特性同媒质中正电子-电子系统的状态、媒质的电子密度和电子动量有密切关系。随着亚纳秒核电子学技术、高分辨率角关联测量技术以及高能量分辨率半导体探测器的发展，可以对正电子的湮没特性进行精细的测量，从而使正电子湮没方法的研究和应用得到迅速发展。现在，正电子湮没谱学已成为一种研究物质微观结构的新手段。

传统正电子湮灭谱仪中的测量部分由甄别器、恒比定时器、延迟器、符合模块、时间数字转换器、前置放大器以及计数器组成，模块很多结构复杂。

但随着高速数字电路的发展，特别是ADC采样速率越做越高，使得用数字电路实现传统的正电子谱仪成为可能，数字电路具备系统使用简单、调试灵活、性能稳定等特点。

如图所示，高速采集卡经过高速ADC对信号进行采集，然后高速采集卡上经过恒比定时、延迟、翻转、时间数字准换以及能谱计数等运算，Zui终输出所需要的正电子谱图。一个高速采集卡模块实现了传统七八个模块实现的功能。

该高速采集卡采用的是采样率3GS/s,8bit,2通道的高速ADC。

数字化正电子湮灭谱仪

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